优缺点 快速扫描 硬盘监测_用硬盘检测工具检测硬盘超实用的技巧！

希捷硬盘的优缺点是数据恢复行业的一个问题。这种故障的可能性很高，修理耗时且成功率低。

与希捷硬盘的其他故障相比，好坏故障很容易判断和识别。症状是当磁盘扫描时，数据可以正常从0扇区读取到特定扇区，但是该扇区之后的所有扇区都无法正常读取数据。当扫描这些不可读的用户扇区时，它将返回ERR

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UNC错误(即设备状态指示灯的ERR指示灯将亮起，错误状态指示灯的UNC指示灯将亮起)，具有上述两点，我们可以确定它是在糟糕的失败之后的良好之前。

现在市场上的希捷修复工具基本上可以解决前后不好的一些问题，但是如果你使用更多，你会发现你总会遇到这些工具前后不能修复的不好，为什么呢？这是因为不好之前和之后实际上分为四种类型，不同类型的好坏解决方案都不一样，所以本文档将深入分析希捷硬盘的好坏原理，知道它知道为什么这是了解定位问题并使用最佳解决方案的最快方法。

事实上，希捷硬盘的根本原因在于编译器一团糟。让我们讨论编译器混淆的原因：

我们知道编译器实际上是一个地址转换器。当计算机读取硬盘数据时，它告诉硬盘哪个LBA地址(逻辑地址)，然后硬盘将相应地址的数据返回给计算机。然而，硬盘的底层固件的地址描述形式需要位于C(轨道)，H(头部)和S(轨道中的扇区偏移)。在翻译过程中可能会阻止一些坏道。逻辑地址似乎是连续的线性地址，相应的物理地址是映射的跳转。如下所示：

(硬盘检测工具www.seagate.com/cn/zh)

希捷前后不良原则分析

简单来说，就是没有任何掩蔽扇区，PBA = LBA;在掩蔽扇区的情况下，PBA = LBA

+掩蔽扇区的长度。

PBA =

LBA的情况是理想的状态，因为硬盘将从生产开始就继续产生坏扇区。硬盘的所有扇区可以分为固件区域，工作区域和保留扇区。一般用户不能直接操作固件区域和保留扇区。实际上，硬盘的实际扇区数大于我们看到的硬盘标签上的校准。一部分用于存储硬盘的固件;另一部分是用户存储数据的区域，即工作区域，即硬盘校准容量的扇形。区;其余的是保留区。实际上，硬盘没有物理地绘制保留区域，只有整个有效扇区在工厂生产时校准，并且硬盘的容量小于其实际扇区的总数。硬盘的容量在固件中定义。硬盘容量的那些扇区被称为保留扇区。

在讨论了硬盘所有扇区的结构之后，让我们讨论单扇区的结构。完整的硬盘扇区结构有两个主要部分：存储数据位置的标识符和存储数据的数据段。如图所示：

该部门的第一个主要部分是标识符。标识符是扇区的标题，由三个数字组成，构成扇区的三维地址：扇区所在的头(或盘)，轨道(或柱面编号)，以及扇区在轨道上的位置(即扇区号)。

。标题还包括具有标志的字段，该标志指示扇区是否可以可靠地存储数据，或者是否已经发现故障并因此不适合使用。一些硬盘控制器还在扇区的标题中记录指针，以在原始扇区发生故障时将磁盘引导到替换扇区或磁道。最后，扇区标题以循环冗余校验(CRC)值结束，以便控制器检查标题头的读取状态，以确保准备正确。

该扇区的第二个主要部分是存储数据的数据段，可以将其分为数据和保护数据的纠错码(ECC)。在初始准备期间，计算机用512个虚拟信息字节(存储实际数据)和与这些虚拟信息字节对应的ECC号填充该部分。

ECC(错误检查和纠正)是一种可以实现错误检查和纠正的技术。 ECC纠错码具有其自己的一组计算公式和算法。在希捷硬盘中。

ECC是Data和LBA的常用功能。具体计算公式为：ECC = f(数据，LBA)

数据和LBA都是输入参数。这意味着LBA中的更改将导致ECC值的更改。之前和之后UNC错误指示灯亮起的原因是因为LBA已更改，因此读/写子系统使用更改的LBA计算的ECC与扇区保存的ECC不匹配，因此读取/

write子系统扇区数据被认为是不可信的，并报告了UNC错误。但是，值得注意的是，并非所有用于硬盘的ECC计算公式都是以这种方式设计的。例如，Western

Digital的公式是ECC = f(Data)，也就是说，没有LBA作为参数，这就是之前Western Digital Hard

Disk不存在的原因。好问题以及希捷硬盘存在的原因。用一句话概括说ECC参数包含硬盘的LBA地址，前后可能存在不错的问题，如希捷硬盘，日立硬盘ARM系列;

ECC不包含硬盘的LBA参数，不会出现问题，如西数硬盘，东芝硬盘等。

当谈到LBA的变化时，你必须谈论缺陷表。我们知道硬盘数据存储的密度非常大。在生产过程中，不可避免地产生缺陷扇区。在使用过程中，那些不稳定的扇区将逐渐老化并导致数据读写错误，这些错误扇区成为缺陷扇区。

。这些缺陷和不稳定的部门将严重威胁到硬盘的数据安全性。为了确保数据安全，硬盘制造商为硬盘设计了两个缺陷列表--P列表和G列表来处理这些缺陷列表。有缺陷的部门。

P和G表用于记录硬盘的缺陷扇区。

P表也称为永久缺陷列表，用于记录硬盘生产过程中产生的缺陷。将缺陷扇区添加到P表后，硬盘将不会读取或写入扇区，但扇区的原始读写操作将被推迟到坏扇区的下一个扇区，以及所有扇区之后的扇区。部门。区域的LBA值已更改，原始保留扇区的一个扇区变为硬盘的LBAmax。如图所示：

G表(也称为生长缺陷列表)用于记录在使用硬盘期间由弱磁介质性能引起的缺陷。将缺陷扇区添加到G表后，当硬盘需要读取扇区时，它将被重新定位到保留扇区中的一个扇区，硬盘工作区的其他扇区不会受到影响，如图所示这个数字：

也就是说，如果缺陷表的改变可能导致LBA移位，则ECC将改变，这将导致UNC错误。这就是为什么希捷硬盘缺陷表的失败会导致编译器混乱，从而导致数据区前面扇区的正常扫描以及随后的扇区扫描。

但是，我们应该注意，并非所有缺陷表都会导致LBA错位。

它必须是一个“挖掘”表才能产生这种效果，而“替换”表不会导致LBA错位。 挖掘表格的效果如下：

替换表的效果如下：

结合上面两个数字和前面的P表，G表内容的图片，我们可以发现所谓的“挖掘”表意味着它从下一个扇区开始，从“切出”坏扇区开始。

所有后续行业的LBA都将发生变化。 “替换”表意味着从保留扇区调用自由扇区来替换坏扇区，而坏扇区后面的扇区LBA不会改变。